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客戶背景

一企業客戶繼上次測試顯微紅外又繼續送樣。

樣品名稱

塊狀的芯片

客戶需求

需要根據客戶提供的定位圖片進行準確的找點，測試微區的紅外圖譜。

總共有樣品D（1顆）、樣品E（1顆）、樣品F（1顆），共三個樣品需要進行顯微紅外光譜的測試。

解決方案

溝通客戶寄送樣品，實驗室接收到樣品后進行長時間的觀察找點。測試完后將數據發給客戶。

樣品D：

芯片正中間有一個圓形開孔，顯微鏡照片如圖所示。開孔中有一個八邊形區域，此區域為待測區域，尺寸大約為300um * 300um。實際的測試點取這個八邊形區域內靠中心區域的點，例如藍色框標示的點。

樣品E：

芯片中間靠上有一個矩形開孔，顯微鏡照片如圖所示。開孔中有一個矩形區域，此區域為待測區域，尺寸大約為300um * 300um。實際的測試點取這個矩形區域內靠中心區域的點，例如藍色框標示的點。

樣品F：

芯片中間靠上有一個圓形開孔，顯微鏡照片如圖所示。開孔中有一個圓形區域，此區域為待測區域，尺寸大約為300um * 300um。實際的測試點取這個圓形區域內半圓區域中的點，例如藍色框標示的點。

客戶反饋

客戶查看數據后對數據質量滿意。